自然对流试验(无风循环温度试验)与规范说明
家庭娱乐视听设备以及汽车电子是许多厂商的重点商品之一,产品在研发过程中,必须要模拟在不同温度下,产品对温度的适应性以及电子特性。但是採用一般烤箱或高低温试验箱在进行温度环境模拟的同时,不管是烤箱或高低温试验箱都有装置循环风扇的测试区,于是在测试区中会有风速的问题产生。 试验时,其温度均匀性是透过转动循环风扇来平衡,虽然透过风循环可以让测试区的温度达到均匀性,但是其待测品本身的发热量也会被循环风所带走,与实际产品在无风的使用环境下(如客厅、室内),会有明显的不一致性。 因为有风循环的关係,会让有送电的待测品温差将近10℃,为了模拟实际使用环境状况,很多人都会误解只有试验机台能够产生温度(如:烤箱、高低温试验箱)就可以进行自然对流试验,其实并非如此。就规范中,针对风速方面有特别的要求,需要无风速的试验环境。透过自然对流试验设备(无强迫风循环试验),产生没有透过风扇的温度环境(自然对流),进而进行待测品相关温度侦测之测试整合试验,此解决方案可适用于家庭相关电子产品或密闭空间的实际环境温度试验(如:大尺寸液晶电视、汽车驾驶舱、汽车电子、笔记型电脑、桌上型电脑、游戏机、音响..等)。
试验环境有无风循环对于待测品试验的差异性:
待测品如不通电环境下,待测品本身不会发热,其热源只是吸收试验炉内的空气热,而待测品如果有通电发热时,其试验炉内有风循环的话,会将待测品本身热量带走,风速每增加1米,其热量就会减少10%左右。假设要模拟室内无空调环境下电子产品的温度特性,若使用烤箱或高低温试验箱模拟35℃,虽然试验区透过电热与冷冻可以控制环境在35℃内,但烤箱与高低温试验箱的风循环会将待测品的热量带走,使待测品实际上的温度低于真正无风状态下的温度。所以必须使用无风速的自然对流试验机才能有效的模拟实际无风环境(如:室内、无启动时的汽车驾驶舱、仪器机箱、户外防水盒..等环境)。
室内无风循环且有太阳辐射热照射环境:
透过自然对流试验机,模拟客户端实际使用的真实无强制空调对流环境下,产品的热点分析与散热特性评估,如照片中液晶电视不只是要考虑本身的散热外,还要评估窗外热辐射对其的影响,热辐射对于产品有可能会产生外加35℃以上的辐射热升温。
风速与IC待测品週温对照表:
环境风速越快时,其IC表面温度也会因风循环的关係将IC表面热量带走,造成风速越快其温度也降的越低,以下面图片为例,当风速为0的时候咖啡色的线温度是在100℃,但是当风速达到5m/s时,其IC的表面温度已经低于80℃以下了。
自然对流恒温环境下分析电路板的热点改善:
未进行热点改善的电路板,透过自然对流试验机提供一个无风环境,与多轨温度纪录量测电路板各热点的温度,发觉因为热空气上升的关係,LSI的IC被SSI所释放出来的热,积热到50℃,以θ10℃法则来说,温度越高产品的寿命越短,其可靠度也会降低很多,透过热分析改善之后,将LSI的IC设计在电路板最底层,LSI的温度降低很多,其寿命与可靠度也大幅提昇。
无强迫空气循环试验:
依据IEC60068-2-2的规范要求,高温试验流程中,需进行无迫空气循环的试验条件,其试验过程需维持在无风循环组件下,其在试验炉内进行高温测试,所以此试验无法透过高低温试验箱或是烤箱来进行,需透过自然对流试验机,方可模拟自由空气条件。
无强迫空气循环试验规范:IEC-60068-2-2、GB2423.2、GB2423.2-89 3.3.1
免用电脑直接量测待测品多点温度:
鑫凯试验仪器的自然对流试验机,内建RS-232通讯介面与Agilent 34970A资料收集器的温度控制程式,不需要透过电脑就可以在进行恒热试验时,同时将待测品所量测到的各点温度值纪录在控制器的试验曲线裡面,除了控制器可以直接观看曲线之外,并可用随身碟将曲线拷贝出来,在电脑上进行细部曲线分析(机台不包含Agilent 34970A资料收集器,需外购)
试验条件说明:
无强迫空气循环试验规范:IEC-68-2-2、GB2423.2、GB2423.2-89 3.3.1
无强迫空气循环试验:无强迫空气循环的试验条件可良好地模拟自由空气条件
GB2423.2-89 3.1.1:在自由空气条件下量测时,试验样品温度达稳定时,其表面最热点的温度高于周围大器温度5℃以上时,就为散热试验样品,否则就是属于非散热试验样品
GB2423.2-8 10(试验散热试验样品温度渐变的高温试验):提供一个标准的试验程序,以用来确定散热电子电子产品(包括元件、设备级其他产品)在高温下使用的适应性
试验要求:
a.无强迫空气循环(装有风扇或鼓风机)的试验机
b.单个试验样品
c.升温速率不大于1℃/min
d.试验样品温度达到稳定后对试验样品通电或家电气负载,进行电性能检测
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高低温低气压试验箱
是模拟高海拔、高空条件下,在低气压、高温、低温单项或同时作用,适用于国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电池,平面显示屏模组工业及相关产品料进行高温、低温,高度(不高于海拔30000米或45000米)以及高低温循环试验、温度及高度综合试验,高、低温试验时本试验箱可用于散热试验样品和非散热试验样品的试验。
GB 150-1998 钢制压力容器
GB 50054 低压配电设计规范
GB 50316-2008 工业金属管道设计规范
GB/T 3164-2007 真空技术系统图用图形符号
GB/T 6070-2007 真空法兰
GJB 1027A 运载器、上面级和航天器试验要求
GJB 1033 卫星热平衡试验方法
QJ 1446A 卫星热平衡试验方法
QJ 2630.1 卫星组件空间环境试验方法-热真空试验
QJ 2630.2 卫星组件空间环境试验方法-热平衡试验
QJ 2630.3 卫星组件空间环境试验方法-真空放电试验¥ 0.00立即购买
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三综合试验箱
是模拟高温、低温、高低温循环以及恒定湿热和交变湿热试验,同时在与振动台配接后,可以实现温度、湿度、振动三因素的综合试验的仪器设备。一般适用于航天、航空、石油、化工、电子、通讯等科研及生产单位测试产品、材料在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性,暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。¥ 0.00立即购买
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紫外线老化试验箱
模拟阳光的光波照射,用冷凝和水喷淋的方法模拟露水和雨水的气候,真实地再现由户不同气候如太阳光照、下雨喷水、高湿冷凝的露珠等综合气候影响导致造成的材料老化或者损坏;广泛应用于油漆、涂料、户外彩色广告、油墨、染料、纺织品、汽车内外饰件、塑料、印刷包装等行业。¥ 0.00立即购买
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PCT老化试验箱
主要是测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于对电工、电子产品,元器件、部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行测试,测试后,通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。¥ 0.00立即购买
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HAST试验箱
用于评估非气密性封装IC器件(固态设备)在高温高湿条件下的运行可靠性,对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压(不偏压)高加速应力寿命老化试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。¥ 0.00立即购买
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冷热冲击试验箱
有三个试验空间,分为蓄热区、蓄冷区、测试区,也称静止式冷热冲击试验箱,试样放在测试箱内进行高低温循环冲击试验,模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。
适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该冷热冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。¥ 0.00立即购买
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快速温变试验箱
是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、製程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果,另外应力筛本身是一种製程阶段的过程,而不是一种可靠度试验,所以应力筛选是100%对产品进行的程序。
我司开发了多种系列快速温变试验箱,不仅提供225L、408L、1000L标准容积的试验箱,同时也可以根据客户需求定制任意容积的快速温变试验箱,并可选配液氮、湿热、防凝露等功能。¥ 0.00立即购买
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小型高低温试验箱
根据客户实验室空间小且测试产品小型而研制的一款设备,其功能性强大,可控范围(低温-40/-60度到高温150度);用于对客户试验产品进行高低温循环,高低温老化,高低温交变试验,评估产品在高温低温环境下的承受能力或物理反应;因小型,较合适研发部门,大学高校科研室,办公楼区,写字楼等场所选购。¥ 0.00立即购买
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