多点触控面板测试条件
电容式触控面板(又称:表面电容式、Surface Capacitive)在结构上最外层为一薄薄的二氧化硅硬化处理层,硬度达到7H,第二层为ITO(导电镀膜),藉由正面的导电层平均分佈传导低电压的电流,在玻璃表面建立一均匀电场,当手指触碰到触控面板的表层,会从接触点吸收小量电流,造成角落电极的压降,利用感应人体微弱电流的方式来达到触控的目的,最下层的ITO的功能是为了遮蔽电磁波,以维持Touch Panel能在良好无干扰的环境下工作,而投射式电容(Projective Capacitive),就是着名的Apple iPhone手机及Windows 7所採用的触控方式,拥有支援多点触控(Multi Touch)的特色,可以缩短使用者的学习时间,只需使用指腹轻触面板即可无须使用触控笔,并且拥有更高的透光率而且更省电、比电阻式更耐刮(硬度可达7H以上)、大幅增加使用寿命且无需校正..等特性。
触控技术依感应原理可分为:
电阻式(Resistive)、电容式(Capacitive)、超音波式(Surface Acoustic Wave)及光学式(Optics)..等四种,其中电容式又可分为表面电容式(Surface Capacitive)与投射式电容(Projective Capacitive)两种。
触控技术应用面:
工业应用(自动加工机具、量测仪器、中央监控控制)
商业应用(售票系统、POS、提款机、售票机、储值机)
生活应用(手机、卫星定位GPS、UMPC、小笔电)
教育娱乐(电子书、随身游戏机、点歌机、电子字典)
触控面板透光率比较:电阻式(85%)、电容式(93%)
多点触控面板测试条件:
操作温度范围:-20℃~70℃/20%~85%RH
储存温度范围:-50℃~85℃/10%~90%RH
高温试验:70℃/240、500小时,80℃/240、1000小时,85℃/1000小时,100℃/240小时
低温试验:-20℃/240小时,-40℃/240、500小时,-40℃/1000小时
高温高湿试验:60℃/90%RH/240小时,60℃/95%RH/1000小时 70℃/80%RH/500小时,70℃/90%RH/240、500、1000小时,70℃/95%RH/500小时 85℃/85%RH/1000小时,85℃/90%RH/1000小时
煮沸试验:100℃/100%RH/100分钟
温度冲击-高低温:(温度冲击试验不等同于温度循环试验)
-30℃←→80℃,500cycles
-40℃(30min)←→70(30min)℃,10cycles
-40℃←→70℃,50、100cycles
-40℃(30min)←→110℃(30min),100cycles
-40℃(30min)←→80℃(30min),10、100cycles
-40℃(30min)←→90℃(30min),100cycles
冷热冲击测试-液体式:-40℃←→90℃、2cycles
冷热冲击测试-过常温: -30℃(30min)→R.T. (5min)→80℃(30min),20cycles
使用寿命:100万次、200万次、3千5百万次、2.25亿次、3亿次
硬度测试:大于硬度7级(ASTM D 3363、JIS 5400)
撞击测试:以 5kg以上的力道,分别敲击面板最脆弱的四周以及中心
Pin(Tail)拉力测试:5、10kg向下拉扯
Pin绕折试验:135¢角,左右来回10次
耐冲击试验:11φ/5.5g铜球于1.8m高落下于1m物体中心表面上、3ψ/9g不锈钢球于30cm高落下
书写耐久性:10万字以上(宽R0.8mm、施压250g)
手触耐久性:100万、1000万、1.6亿、2亿次以上(宽R8 mm、硬度60°、施压250g、每秒2次)
-
高低温低气压试验箱
是模拟高海拔、高空条件下,在低气压、高温、低温单项或同时作用,适用于国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电池,平面显示屏模组工业及相关产品料进行高温、低温,高度(不高于海拔30000米或45000米)以及高低温循环试验、温度及高度综合试验,高、低温试验时本试验箱可用于散热试验样品和非散热试验样品的试验。
GB 150-1998 钢制压力容器
GB 50054 低压配电设计规范
GB 50316-2008 工业金属管道设计规范
GB/T 3164-2007 真空技术系统图用图形符号
GB/T 6070-2007 真空法兰
GJB 1027A 运载器、上面级和航天器试验要求
GJB 1033 卫星热平衡试验方法
QJ 1446A 卫星热平衡试验方法
QJ 2630.1 卫星组件空间环境试验方法-热真空试验
QJ 2630.2 卫星组件空间环境试验方法-热平衡试验
QJ 2630.3 卫星组件空间环境试验方法-真空放电试验¥ 0.00立即购买
-
三综合试验箱
是模拟高温、低温、高低温循环以及恒定湿热和交变湿热试验,同时在与振动台配接后,可以实现温度、湿度、振动三因素的综合试验的仪器设备。一般适用于航天、航空、石油、化工、电子、通讯等科研及生产单位测试产品、材料在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性,暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。¥ 0.00立即购买
-
紫外线老化试验箱
模拟阳光的光波照射,用冷凝和水喷淋的方法模拟露水和雨水的气候,真实地再现由户不同气候如太阳光照、下雨喷水、高湿冷凝的露珠等综合气候影响导致造成的材料老化或者损坏;广泛应用于油漆、涂料、户外彩色广告、油墨、染料、纺织品、汽车内外饰件、塑料、印刷包装等行业。¥ 0.00立即购买
-
PCT老化试验箱
主要是测试产品在高温、高温高湿及压力的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于对电工、电子产品,元器件、部件、金属材料及其材料在模拟高温、高温高湿及压力的气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行测试,测试后,通过检定来判断产品的性能是否能够达到要求,以便供产品的设计、改进、检定及出厂检验使用。密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。¥ 0.00立即购买
-
HAST试验箱
用于评估非气密性封装IC器件(固态设备)在高温高湿条件下的运行可靠性,对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压(不偏压)高加速应力寿命老化试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。¥ 0.00立即购买
-
冷热冲击试验箱
有三个试验空间,分为蓄热区、蓄冷区、测试区,也称静止式冷热冲击试验箱,试样放在测试箱内进行高低温循环冲击试验,模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。
适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该冷热冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。¥ 0.00立即购买
-
快速温变试验箱
是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、製程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果,另外应力筛本身是一种製程阶段的过程,而不是一种可靠度试验,所以应力筛选是100%对产品进行的程序。
我司开发了多种系列快速温变试验箱,不仅提供225L、408L、1000L标准容积的试验箱,同时也可以根据客户需求定制任意容积的快速温变试验箱,并可选配液氮、湿热、防凝露等功能。¥ 0.00立即购买
-
小型高低温试验箱
根据客户实验室空间小且测试产品小型而研制的一款设备,其功能性强大,可控范围(低温-40/-60度到高温150度);用于对客户试验产品进行高低温循环,高低温老化,高低温交变试验,评估产品在高温低温环境下的承受能力或物理反应;因小型,较合适研发部门,大学高校科研室,办公楼区,写字楼等场所选购。¥ 0.00立即购买
为你推荐
根据您的浏览,实时为您推荐爆款产品