HAST试验箱
用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求，3种控制模式包含：不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。
可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求，3种控制模式包含：不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。
| 规格尺寸 | 内尺寸（Φx深D）mm | 外尺寸（宽Wx高Hx深D）mm | |
| 350 | 300×450 | 800×1200×1050 | |
| 450 | 400×550 | 900×1300×1150 | |
| 650 | 600×750 | 1100×1500×1350 | |
| 950 | 900×1050 | 1400×1800×1650 | |
| 性能 | 温度范围 | 100～+132℃ 100～+143℃ 100～+155℃ |
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| 压力范围 | 0.2～2kg/cm²（0.05～0.196MPa） 0.2～3kg/cm²（0.05～0.294MPa） 0.2～3.5kg/cm²（0.05～0.343MPa） |
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| 加压时间 | ≤55min | ||
| 湿度范围 | 65～100%RH | ||
| 温度波动度 | ±0.5℃ | ||
| 温度均匀度 | ±0.5℃（湿度100%RH），±1.0℃（湿度75%RH） | ||
| 温度偏差 | ≤2.0℃ | ||
| 使用材料 | 内箱材质 | 316不锈钢板 | |
| 外箱材质 | 304不锈钢或冷轧钢板烤漆 | ||
| 保温材质 | 岩棉及硬质polyurethane发泡保温 | ||
| 安全保护 | 传感器保护、第一阶段高温/高压保护、电压过载保护、电压监控、手动给水、错误停机自动泄压、排水储水、错误原因显示机排解参考、记录错误功能、接地泄露、湿度加热器高温报警、马达过载保护、错误侦测机安全保护 | ||
| BIAS偏压端子（选购） | 依据客户需求定制 | ||
| 具体要求以规格书为准 | |||
