HAST老化试验箱

HAST老化试验箱

用于评估产品及材料在高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。该试验检查芯片及其他材料长期贮存条件下,高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求,仅针对非密封封装(塑料封装),带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。

可满足GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等规范要求,3种控制模式包含:不饱和控制(乾湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。
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产品详情

规格尺寸 内尺寸(Φx深D)mm 外尺寸(宽Wx高Hx深D)mm
350 300×450 800×1200×1050
450 400×550 900×1300×1150
650 600×750 1100×1500×1350
950 900×1050 1400×1800×1650
 
性能 温度范围 100~+132℃
100~+143℃
100~+155℃
压力范围 0.2~2kg/cm²(0.05~0.196MPa)
0.2~3kg/cm²(0.05~0.294MPa)
0.2~3.5kg/cm²(0.05~0.343MPa)
加压时间 ≤55min
湿度范围 65~100%RH
温度波动度 ±0.5℃
温度均匀度 ±0.5℃(湿度100%RH),±1.0℃(湿度75%RH)
温度偏差 ≤2.0℃
使用材料 内箱材质 316不锈钢板
外箱材质 304不锈钢或冷轧钢板烤漆
保温材质 岩棉及硬质polyurethane发泡保温
安全保护 传感器保护、第一阶段高温/高压保护、电压过载保护、电压监控、手动给水、错误停机自动泄压、排水储水、错误原因显示机排解参考、记录错误功能、接地泄露、湿度加热器高温报警、马达过载保护、错误侦测机安全保护
BIAS偏压端子(选购) 依据客户需求定制
具体要求以规格书为准

 

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